BEP-01,Blunt-end Probe(試驗(yàn)探棒)
BEP-01,Blunt-end Probe(試驗(yàn)探棒),符合:UL,CSA,IEC,EN等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn).品牌:美國(guó).ED&D
| ACCESSIBILITY PROBES 試驗(yàn)探針 |
| FOR TESTING THE PROTECTION AGAINST ACCESS TO HAZARDOUS PARTS |
BEP-01,Blunt-end Probe(試驗(yàn)探棒)
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Stainless steel probe required by various UL, CSA, IEC, and EN standards. |
美國(guó).ED&D產(chǎn)品服務(wù)于:IBM ，美國(guó)航空暨太空總署，英代爾，蘋(píng)果， NCR ，索尼公司，太陽(yáng)，飛利浦公司，思科， AT&T ， Compaq ， JVC ， Hewlett-Packard ，摩托羅拉， Mattel ，戴爾,3 Com 等公司;專為UL ， CSA ， ETL ， TUV,Demko等試驗(yàn)室提供檢測(cè)產(chǎn)品.
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