EWP-01, Enameled Wire Probe(試驗(yàn)探棒)
EWP-01, Enameled Wire Probe(試驗(yàn)探棒).符合UL標(biāo)準(zhǔn).品牌:美國(guó).ED&D HMP- 01, Hazardous Moving Parts Probe(試驗(yàn)探棒),符合UL標(biāo)準(zhǔn).品牌:美國(guó).ED&D HMP- 01, Hazardous Moving Parts Probe(試驗(yàn)探棒)
EWP-01, Enameled Wire Probe(試驗(yàn)探棒).符合UL標(biāo)準(zhǔn).品牌:美國(guó).ED&D HMP- 01, Hazardous Moving Parts Probe(試驗(yàn)探棒),符合UL標(biāo)準(zhǔn).品牌:美國(guó).ED&D HMP- 01, Hazardous Moving Parts Probe(試驗(yàn)探棒)
| ACCESSIBILITY PROBES 試驗(yàn)探針 |
| FOR TESTING THE PROTECTION AGAINST ACCESS TO HAZARDOUS PARTS |
EWP-01, Enameled Wire Probe(試驗(yàn)探棒)
 
| For testing accessibility in accordance with many UL Standards. In many Standards, this probe is used for access to enamel coated wire (i.e. transformers and inductors). The handle is Delrin and the tip is stainless steel. |
美國(guó).ED&D產(chǎn)品服務(wù)于:IBM ，美國(guó)航空暨太空總署，英代爾，蘋果， NCR ，索尼公司，太陽，飛利浦公司，思科， AT&T ， Compaq ， JVC ， Hewlett-Packard ，摩托羅拉， Mattel ，戴爾,3 Com 等公司;專為UL ， CSA ， ETL ， TUV,Demko等試驗(yàn)室提供檢測(cè)產(chǎn)品.
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