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產(chǎn)品資料

TPP-01: Short Test Pin Probe 試驗短銷,符合IEC, EN, UL and CSA標準,(品牌:美國.ED&D)
ACCESSIBILITY PROBES 試驗探針
FOR TESTING THE PROTECTION AGAINST ACCESS TO HAZARDOUS PARTS
 Model TPP-01: Short Test Pin Probe  試驗短銷

 Used to test accessibility through enclosure openings per IEC, EN, UL and CSA Standards. Body is Delrin, tip is stainless steel.

NOTE: Don’t ever purchase an all plastic version - the tip is too narrow to maintain tip rigidity!

美國.ED&D產(chǎn)品服務于:IBM ，美國航空暨太空總署，英代爾，蘋果， NCR ，索尼公司，太陽，飛利浦公司，思科， AT&T ， Compaq ， JVC ， Hewlett-Packard ，摩托羅拉， Mattel ，戴爾,3 Com 等公司;專為UL ， CSA ， ETL ， TUV,Demko等試驗室提供檢測產(chǎn)品.

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